天星ED-400型渦流測厚儀

天星ED-400型渦流測厚儀適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。

天星ED-400型渦流測厚儀自1993年開始生產以來，伴隨著我國鋁加工行業的成長，其自身也在不斷改進和提高，目前，已生產了ED200型、ED300型和ED400型三代產品，天星ED-400型渦流測厚儀是一代產品，其產品質量和測試精度達到國外儀器水平，其耐用性非常突出，超過國內外儀器。天星測厚儀以良好的質量，及時、優質、低費用的售后服務得到用戶的廣泛贊譽和認可，天星測厚儀在鋁型材行業的*超過90%，成為該行業的產品。

儀器特點

天星ED-400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：

● 量程寬-    ED400型渦流測厚儀量程達到0～500 μm。

● 精度高-    測量精度達到2%。

● 分辨率高-    分辨率達到0.1 μm

● 校正簡便-    只校正“0”和“50 μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。

● 基體導電率影響小-   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2 μm。

● 可靠性提高-   采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性提高。

● 穩定性提高-   采用良好的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產現場長期使用。

● 探頭芯壽命長-   采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。

技術參數

標準配置:

主機           

探頭           

基體（6063鋁合金）

校正箔片   一套4片（附檢測報告）

儀器箱

可選附件:

備用探頭

基體

校正箔片（附檢測報告）